V rámci Týždňa vedy a techniky na Slovensku mal dňa 10. 11. 2015 v Centre vedecko-technických informácií SR prednášku prof. Ing. Josef Lazar, Dr., člen Akademickej rady Akadémie vied ČR.
Profesor Josef Lazar pracuje v Ústave prístrojovej techniky AV ČR v Brne a špecializuje sa na optickú metrológiu a interferometriu. Jeho prednáška mala názov Interferometria – meranie svetlom.
„Interferometrické meracie metódy laserom, ako zdrojom žiarenia, predstavujú najpresnejší nástroj merania nielen dĺžky, ale aj ostatných rozmerových veličín s priamou nadväznosťou na základný etalón dĺžky,“ uviedol svoju prednášku prof. Lazar po tom, čo vysvetlil princíp laseru a interferencie. Upozornil, že meranie malých rozmerov v mikro, no najmä v nanosvete prináša rad problémov, preto si vyžaduje použitie nových prístupov a konceptov pri návrhoch a konštrukciách meracích systémov. „Preto je nanometria novým a svojbytným odborom,“ povedal prof. Lazar.
Prítomným vysvetlil, že zobrazovanie mikro a nanoštruktúr technikami mikroskopie nám dáva informácie nielen o tvare, ale aj o vlastnostiach skúmaných objektov. „No až kombináciou s meracími metódami môžeme neuveriteľne malé rozmery tiež merať,“ vysvetlil profesor Josef Lazar. Vďaka vlastnostiam laseru a interferencie je možné pri meraní dosiahnuť rozlíšenie a presnosť pod úrovňou jedného nanometra.
Keďže sa na prednáške zúčastnili ako poslucháči aj slovenskí vedci (medzi prítomnými bol napríklad prof. Štefan Luby), po jej skončení vznikla veľmi živá diskusia, ktorá bola nielen zaujímavým vyvrcholením prednášky, ale nesporne obohatila všetkých prítomných.
Autor: Pavol Prikryl, CVTI SR
ilustračné foto: pixabay
foto: autor
Uverejnila: ZČ